지난 글에 이어 이번 글에서는 엔드투엔드 DFT(Design-For-Test) 자동화 도입을 통한 프로세스 최적화를 위해 염두해야 할 내용에 대해 알아본다.

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☞ 반도체 엔지니어 주목, “DFT 자동화의 물결에 주목하라” ①
☞ 반도체 엔지니어 주목, “DFT 자동화의 물결에 주목하라” ②

범용 테스트 인프라
엔드투엔드 DFT 자동화는 IEEE1687, 일명 IJTAG의 인프라를 기반으로 모든 테스트 기기 전반에 걸쳐 플러그-앤-플레이 자동화를 달성한다. 모든 공급업체의 IJTAG 규격 준수 IP를 범용적으로 사용할 수 있으므로 코어와 IP의 통합 및 재사용이 상당히 쉬워진다. 

또한 코어 레벨 테스트 패턴의 목표를 상위 레벨로 다시 맞추고 해당 패턴을 동일한 코어로 브로드캐스팅 할 수도 있다. (그림 4는 스캔 테스트 instrument를 위한 서브 네트워크를 갖춘 IJTAG 네트워크를 보여준다.) 

첨단 DFT 자동화 솔루션은 IJTAG 네트워크를 삽입하고, 기존의 IJTAG 네트워크를 인식 및 추출하며, ICL 및 PDL 네트워크 기술 파일을 점증적으로 생성하고, 계층적 PDL 리타겟팅을 수행할 수 있다. 

IJTAG instrument를 효율적으로 구현하고 테스트 데이터 레지스터(TDR)를 특정한 쓰기/읽기에 사용함으로써 최적의 IJTAG 네트워크 구성을 자동으로 생성한다.

범용 테스트 인프라는 TAP 컨트롤러의 초기화 프로시저도 단순화한다. 주기별 프로시저 생성 프로세스는 시간이 많이 걸리고 오류가 발생하기도 쉽다. 하지만 이제 보다 높은 추상화 수준에서 이를 달성할 수 있으며 사용하기 간편한 명령어와 내장 프로시저를 통해 자동으로 프로시저를 생성할 수 있다.

미래에 대비한 맞춤화
맨 처음부터 완전한 계층적 플로우를 채택한다는 것은 실용적이지 않을 수 있으므로 설계 팀은 기존의 커스텀 설계 단계 및 요건을 보다 발전된 이 자동화 방법론에 매끄럽게 통합시킬 수 있어야 한다. 

이 플로우를 맞춤화해 개별 사용자, 그룹 또는 회사 전체의 요구사항에 완벽하게 들어맞도록 할 수 있다.

이처럼 유연한 채택이 가능한 것은 다수의 진입점/종료점을 갖기 때문으로, 커스텀 툴과 써드파티 툴을 모두 사용할 수 있다. 강력한 자체 검사 및 Tcl 스크립팅 기능을 사용하여 표준 툴 기능과 명령을 사용자 정의 명령 및 스크립트와 혼합시킬 수 있다.

미래에 대비한 맞춤화의 예는 다음과 같다.
- DRC의 생성 및 자동 실행으로 클럭 게이터의 enable 핀 상태를 확인하고, 메모리가 바이패스 모드에 있는지 또는 enable 되었는지 확인하며, I/O 패드의 slew rate 등을 확인한다
- 설계 및 툴 데이터 모델의 자체 검사
- 새로운 사용자 정의 속성을 추가하여 커스텀 설정을 추적하고 완전한 자체 검사 수행
- 툴 및 사용자 정의 속성을 모든 객체 유형에 대해 변경할 수 있는 기능

엔드투엔드 DFT 자동화의 채택은 신뢰할 수 있으며 시장을 선도하고 있는 툴 공급업체의 지원을 통해 보다 쉽게 이루어질 수 있다. 이들은 우리의 현재 DFT 목표를 평가하고, 완전한 레퍼런스 플로우, 문서화 및 테스트 사례를 툴과 함께 제공할 수 있다. 

Tessent Connect의 엔드투엔드 DFT 자동화 솔루션 구현이 늘어남에 따라 DFT 구현에 드는 시간과 비용이 점차적으로 더욱 줄어들고, 보다 효율적이며 예측 가능하고 지속 가능한 DFT 플로우가 구현되는 것을 확인할 수 있다.

글: 제이 자한기리(Jay Jahangiri) / DFT 솔루션 부문 매니저 / 지멘스EDA